Banc de mesure de fatigue thermique de composants due à la traction

Banc de mesure de fatigue thermique des modules IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor)

Trois bancs de mesures permettent de tester chacun 3 modules IGBT.

Un plan d'expérience d'essais accélérés de fatigue thermique de modules IGBT de 1200 A a été mis en œuvre, et est opérationnel pour les nouveaux modules à lui soumettre.

Les tests de fatigue sont réalisés par une commutation réglable et successive (pilotée par le banc) de la conduction de chacun des modules. Ce vieillissement accéléré est poursuivi jusqu'à un seuil programmé.
Un refroidissement par eau est assuré pour les modules sous test.

Des travaux sur la fiabilité des modules sont menés également en collaboration avec un constructeur du ferroviaire.

A l'aide de ces bancs le Laboratoire TEMA se constitue une base de données de fatigue thermique des différents modules IGBT soumis à ces tests accélérés. Les résultats sont communiqués notamment dans le cadre du GIRCEP (Groupement des Industriels et Centres de Recherche en Électronique de puissance).